CONTRIBUTION A L'ETUDE GEOLOGIQUE DU SECTEUR MERIDIONAL DES ALPES ORIENTALES REGION DU HAUT VAL DI NON PROVINCE DE TRENTE (ITALIE).VAREILLE A.1965; FAC.SCI.UNIV.PARIS.D.E.S.SCI.NAT.MENTION.GEOL.; 1965, P. 1 A 37Miscellaneous

LE TRIAS DU VAL DI NON.VAREILLE A.1965; FAC.SCI.UNIV.PARIS.D.E.S.SCI.NAT.MENTION.GEOL.; 1965, P. 1 A 13Miscellaneous

LE PROBLEME DE L'ANALYSE SPECTRALE DE LA LUMIERE POLARISEE. EXEMPLES EN OPTIQUE POLYCHROMATIQUE ET COHERENTEVAREILLE A.1979; J. OPT.; FRA; DA. 1979; VOL. 10; NO 1; PP. 13-19; ABS. ENG; BIBL. 13 REF.Article

FORMALISME POUR LA DESCRIPTION DE LA LUMIERE POLARISEE. APPLICATION A L'HOLOGRAPHIE EN LUMIERE POLARISEE.CHARMET JC; VAREILLE A.1978; REV. PHYS. APPL.; FR.; DA. 1978; VOL. 13; NO 6; PP. 317-327; ABS. ANGL.; BIBL. 23 REF.Article

MESURE DIRECTE DE BIREFRINGENCES LINEAIRES INCLUSES DANS UN MILIEU TRANSPARENT SELON LA TECHNIQUE DU BIREFRINGENT TOURNANTROBERT A; ROYER J; VAREILLE A et al.1978; C.R. ACAD. SCI., B; FRA; DA. 1978; VOL. 287; NO 6; PP. 137-140; ABS. ENGArticle

ELLIPSOMETRIC ANALYSIS OF THIN SILICON DIOXIDE LAYERSGED P; VAREILLE A; BOIS D et al.1982; THIN SOLID FILMS; ISSN 0040-6090; CHE; DA. 1982; VOL. 91; NO 4; PP. 327-334; BIBL. 9 REF.Article

PHOTOELASTICIMETRES A DEUX LONGUEURS D'ONDE: APPAREILS AUTOMATIQUES ET SEMI-AUTOMATIQUESROBERT A; ROYER J; VAREILLE A et al.1978; SCI. TECH. ARMEM.; FRA; DA. 1978; VOL. 52; NO 3; PP. 447-465; ABS. ENG/GER; BIBL. 14 REF.Article

MESURE DES FORMES DE LUMIERE EN PHOTOELASTICIMETRIEROBERT A; ROYER J; VAREILLE A et al.1980; SCI. TECH. ARMEM.; FRA; DA. 1980; VOL. 54; NO 3; PP. 361-394; ABS. ENG/GER; BIBL. 20 REF.Article

ELLIPSOMETRIE. ETUDE DES LAMES BIREFRINGENTES EN ROTATION. APPLICATION A LA MESURE DES FORMES DE LUMIERE POLARISEE.ROBERT A; ROYER J; VAREILLE A et al.1977; C. R. ACAD. SCI., B; FR.; DA. 1977; VOL. 284; NO 23; PP. 523-525; ABS. ANGL.; BIBL. 5 REF.Article

PHOTOELASTICIMETRES A DEUX LONGUEURS D'ONDE, APPAREILS AUTOMATIQUES ET SEMI-AUTOMATIQUESROBERT A; ROYER J; VAREILLE A et al.1978; ANN. PONTS CHAUSS.; FRA; DA. 1978; NO 6; PP. 27-35; ABS. ANGL. ALLEM. ESP. PORT. RUSSE ARABE; BIBL. 14 REF.Article

Measurement of the derivatives of the magnetization of a superconducting network = Mesure des dérivées de l'aimantation d'un réseau supraconducteurGANDIT, P; CHAUSSY, J; PANNETIER, B et al.Europhysics letters (Print). 1987, Vol 3, Num 5, pp 623-628, issn 0295-5075Article

La chirurgie orthopédique des adultes à quotient intellectuel bas = Orthopedic surgery in polyhandicapped adults with low mental levelTAUSSIG, G; ALBOUNI, S; MOUALLA, M et al.Revue de chirurgie orthopédique et réparatrice de l'appareil moteur. 1999, Vol 85, Num 3, pp 226-230, issn 0035-1040Article

Anesthésie ambulatoire en chirurgie plastique et reconstructrice = Ambulatory anesthesia in plastic and reconstructive surgeryBERTRAND, C; CHAUCHAT, P; SCEMAMA, F et al.Annales de chirurgie plastique et esthétique. 1988, Vol 33, Num 2, pp 167-171, issn 0294-1260Article

Study of bake mechanisms by real-time in-situ ellipsometryPANIEZ, P. J; VAREILLE, A; BALLET, P et al.SPIE proceedings series. 1998, pp 289-300, isbn 0-8194-2778-0, 2VolConference Paper

Submicron PMMA/W/SiO₂ lithography for Si localized epitaxyGLASTRE, G; VINCENT, G; VAREILLE, A et al.Microelectronic engineering. 1987, Vol 7, Num 1, pp 1-10, issn 0167-9317Article

Si/CoSi₂/Si permeable base transistor obtained by silicon molecular beam epitaxy over a CoSi₂ gratingROSENCHER, E; GLASTRE, G; VINCENT, G et al.Electronics Letters. 1986, Vol 22, Num 13, pp 699-700, issn 0013-5194Article

Electronic transport in gratinglike potential modulated inversion layersVETTESE, F; SICART, J; ROBERT, J. L et al.Journal of applied physics. 1989, Vol 66, Num 11, pp 5465-5471, issn 0021-8979, 7 p.Article

First observation of the universal periodic corrections to scaling: magnetoresistance of normal-metal self-similar networks = Première observation des corrections périodiques universelles à l'échelonnement: magnétorésistance de réseaux auto-similaires de métaux normauxDOUCOT, B; WANG, W; CHAUSSY, J et al.Physical review letters. 1986, Vol 57, Num 10, pp 1235-1238, issn 0031-9007Article

OS for embedded systems : state of the art and prospectsOLIVE, V; MARTIN, S; VAREILLE, A et al.Microelectronic engineering. 2000, Vol 54, Num 1-2, pp 113-121, issn 0167-9317Conference Paper